株式会社NFデバイステクノロジー

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設備紹介

環境試験・性能評価試験設備

定加速度試験装置

試料の遠心加速力に対する影響を評価する装置です。
本装置を使った試験では、陸上輸送機・航空機・ロケットや回転機器等に使用される電子部品及び半導体製品の遠心加速力に対する影響を評価することで、 他の振動・衝撃試験では検出できない構造上・機械的欠陥の検出が可能です。

 

【試験規格】

  • MIL-STD-883-2001
  • MIL-STD-750-2006

定加速度試験器

冷熱衝撃試験装置

試料の温度変化に対する影響を評価する装置です。
低温に冷却された空気(-65℃~0℃)と高温に加熱された空気(60℃~200℃)を短時間で交互に繰り返し印加し、温度変化により繰り返し発生する熱膨張・収縮応力による影響を評価します。

 

【試験規格】

  • MIL-STD-202-102
  • MIL-STD-883-1010
  • MIL-STD-750-1051

冷熱衝撃試験器

PIND試験装置 (B&W社製)

中空構造の部品内部に存在する、異物の有無を検出・判定し、異物混入によるショート事故等を未然に防ぐための試験装置です。

PIND試験(Particle Impact Noise Detection:微粒子衝撃雑音検出)とは、ハイブリットIC等に衝撃と振動をかけて、部品内部の異物がパッケージ内部に衝突する際に発生する音を検出する試験。宇宙向けハイブリットICの他、半導体デバイスの信頼性評価試験などニーズが広がっています。

 

【試験規格】

  • MIL-STD-883-2020
  • MIL-STD-750-2052

PIND試験装置

 

 

 

 

 

恒温・恒湿試験装置

恒温恒湿槽(低温・高温・湿度可変)、恒温槽(低温・高温度可変) で、製品・部品の各種環境試験が可能です。

恒温槽

リーク試験装置

中空構造の部品の封止、主に溶接の完全性を評価・判定し、運用・保管状態での部品劣化を防ぐ試験をします。

高信頼性評価装置

 

 
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