設備紹介
試料の遠心加速力に対する影響を評価する装置です。 本装置を使った試験では、陸上輸送機・航空機・ロケットや回転機器等に使用される電子部品及び半導体製品の遠心加速力に対する影響を評価することで、 他の振動・衝撃試験では検出できない構造上・機械的欠陥の検出が可能です。
【試験規格】
試料の温度変化に対する影響を評価する装置です。 低温に冷却された空気（-65℃～0℃）と高温に加熱された空気（60℃～200℃）を短時間で交互に繰り返し印加し、温度変化により繰り返し発生する熱膨張・収縮応力による影響を評価します。
中空構造の部品内部に存在する、異物の有無を検出・判定し、異物混入によるショート事故等を未然に防ぐための試験装置です。
PIND試験（Particle Impact Noise Detection：微粒子衝撃雑音検出）とは、ハイブリットIC等に衝撃と振動をかけて、部品内部の異物がパッケージ内部に衝突する際に発生する音を検出する試験。宇宙向けハイブリットICの他、半導体デバイスの信頼性評価試験などニーズが広がっています。
恒温恒湿槽（低温・高温・湿度可変）、恒温槽（低温・高温度可変） で、製品・部品の各種環境試験が可能です。
中空構造の部品の封止、主に溶接の完全性を評価・判定し、運用・保管状態での部品劣化を防ぐ試験をします。
高信頼製造
