株式会社NFデバイステクノロジー

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システムインテグレーション

開発実績4 : 半導体自動温度試験システム

 

半導体の電圧測定、ドリフト量の計算、選別および恒温恒湿槽の温度制御まで、すべて自動で行います。

GPIB制御とデジタルI/Oを使用して治具をコントロールするため、一度に60個の温度試験が可能です。恒温恒湿槽はRS488で制御されます。

LabVIEW 半導体評価システム 

 

導入の背景・課題

  1. 半導体の種類により試験温度と内容が異なるため、条件が複雑である。
  2. 恒温恒湿槽の温度安定条件がある。
  3. 試験結果に応じて良否の選別を行う必要がある。 

 

解決方法

  • 半導体の種類に応じ必要な条件を、自動的に設定するプログラムの開発。
  • 恒温恒湿槽の制御に、標準装備のRS488を使用する。
  • 選別結果は、視覚的でわかりやすい画面構成とする。

 

導入した効果

 

  • 作業者は、半導体を選択するだけですべての設定を自動的に行えるようになった。
  • 恒温恒湿槽の手操作がなくなった。
  • 試験開始から選別結果の表示まで、無人で行えるようになった。
LabVIEW 自動化システム画面イメージ 

 

システム構成

LabVIEW 自動化システムの構成

 

 
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